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產(chǎn)品中心半導體材料測試霍爾電阻遷移率非接觸Hall和方塊電阻測試系統(tǒng)
產(chǎn)品簡介
非接觸Hal和方塊電陽測試系統(tǒng)，可對GaAs,InP,InAs,GaN,AIN,Si,SiC等各種半導體材料設計的HEMTs,pHEMTs,HBTs,FETs器件結構進行測試。
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